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更新日期:2024-09-22
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簡要描述:艾思荔高低溫老化測試箱又名電路板高低溫試驗箱,用于儀器儀表、電工、電子產(chǎn)品、家用電器、汽摩配件、化工涂料、航天產(chǎn)品及其他相關(guān)產(chǎn)品零部件在高溫、低溫、濕熱的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性。電路板高低溫試驗箱主要用于對產(chǎn)品按照標(biāo)準要求或用戶自定要求,在高溫、低溫、濕熱、條件下對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試,測試后,通過檢測,來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求
高低溫老化測試箱
艾思荔生產(chǎn)高低溫老化測試箱采用多翼式送風(fēng)機強力送風(fēng)循環(huán),避免任何死角,可使測試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計,風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測試標(biāo)準,并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時間快。滿足GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備、GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備等試驗標(biāo)準。
高低溫老化測試箱執(zhí)行標(biāo)準:
GB/T2423.1-2001試驗A:低溫試驗方法
GB/T2423.2-2001試驗B:高溫試驗方法
GB/T2423.3-1993試驗Ca:恒定濕熱試驗
GB10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB10589-2006低溫試驗箱技術(shù)條件
GB10592-2006高低溫老化測試箱技術(shù)條件
GB11158-2006高溫試驗箱技術(shù)條件
高低溫老化測試箱溫濕度范圍:
溫度范圍: A:-20℃~150℃ B:-40℃~150℃ C:-60℃~150℃ D:-70℃~150℃
溫度波動度: ±0.5℃(常壓,空載)
溫度均勻度: ±2℃(常壓,空載)
溫度偏差: ±3℃(常壓,空載)
升溫速率: 1.0~3.0℃/min
降溫速率: 0.7~1.0℃/min
壓力范圍: 常壓~0.5kPa
壓力偏差: 常壓~40Kp:±1.8Kpa;40Kp~4Kpa:±4.5%;4Kp~0.5KPa:±0.1Kpa
降壓時間: ≤45min(常壓~0.5kPa)
高低溫老化測試箱技術(shù)參數(shù)
1、溫度范圍:(0℃、-20℃、-40℃、-70℃)~+150℃
2、濕度范圍:30~98%RH
3、溫度均勻度≤±2.0℃
4、溫度波動度≤±0.5℃
5、濕度波動:+2-3%RH
6、降溫速率:0.7℃~1℃(空載狀態(tài)下)
7、升溫速率:1~3℃(空載狀態(tài)下)
高低溫老化測試箱循環(huán)系統(tǒng)
1.制冷機采用法國原裝“泰康"全封閉壓縮機。
2.冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計。
3.升溫、降溫、系統(tǒng)*獨立可提高效率,降低測試成本,增長壽命,減低故障率。
高低溫老化測試箱設(shè)備用途:
艾思荔高低溫老化測試箱又名電路板高低溫試驗箱,用于儀器儀表、電工、電子產(chǎn)品、家用電器、汽摩配件、化工涂料、航天產(chǎn)品及其他相關(guān)產(chǎn)品零部件在高溫、低溫、濕熱的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性。電路板高低溫試驗箱主要用于對產(chǎn)品按照標(biāo)準要求或用戶自定要求,在高溫、低溫、濕熱、條件下對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試,測試后,通過檢測,來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便于產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用
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